可替代ICP的XRF分析

　　電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）是一種高度精確的分析技術(shù)，可檢測樣本中的微量物質(zhì)。但需要定期校準(zhǔn)和維護的精密設(shè)備，且極為復(fù)雜，必須由專家來完成使用。盡管ICP測試本身速度很快，但樣本制備難度大、時間長，且涉及危險物質(zhì)。在許多情況下，XRF分析可*取代ICP分析，也可在ICP設(shè)備停止工作時作為后備儀器。

　　XRF分析可檢測樣本中的絕大多數(shù)元素（從百分之幾到百萬分之幾）。可用于檢測元素周期表中鈉到鈾之間的元素，此外，還可測量固體、液體、粉末、糊狀物和薄膜。與ICP一樣，其測量時間也很快：從幾秒鐘到幾分鐘不等。

　　XRF的優(yōu)勢

　　如果對ppm以下的范圍進行分析，則ICP是理想之選。但對于ppm及以上范圍，XRF具備多個優(yōu)點：

　　● 無損測試。不會在樣本表面留下痕跡。分析后的樣本可重新投入生產(chǎn)，以便進一步加工或運送至客戶。

　　● 樣本制備快速簡單。要分析液體、糊狀物、粉末或顆粒，只需將其倒入樣本杯并放入分析儀中，而固體則可能需要切割成適合分析儀的尺寸。通常無需制備其他樣本，從而加快測量過程并降低污染幾率。

　　● 簡單易用。運行XRF測試無需有經(jīng)驗的實驗室技術(shù)人員。只要稍加培訓(xùn)，任何人均可安全使用設(shè)備，并提供準(zhǔn)確結(jié)果。

　　● 購置成本低。運行XRF光譜儀所需的耗材是樣本杯或樣本盒，如果測量非常輕的元素（如鈉），則可能還需要使用氦。除此之外，運行成本就是電費。

　　● 無需使用濕化學(xué)方法。因為使用XRF測試樣本無需購買、儲存和處理危險化學(xué)品。這可降低成本和員工所面臨的風(fēng)險。

　　● 結(jié)果更具重現(xiàn)性。XRF分析所測量的樣本量大于ICP，因此其測量結(jié)果更有可能代表整個樣本。樣本制備量越少，測試過程中的污染幾率就越小。此外，由于測試簡單快捷，因此可輕松地復(fù)核結(jié)果。

　　如果分析ppm以上的鈉到鈾元素，則可考慮使用XRF替代ICP。